| 主题：纳米应用中的精密电子测量技术 |
| 在线问答： |
| [问：zhd22] |
除了摩擦电效应和电化学效应外，像电磁干扰或感应产生的误差如何解决。谢谢！ |
| [答：Steven] |
首先要做到尽量远离电磁干扰源，不可避免的电磁干扰应采用屏蔽措施隔离测试器件与干扰源，还有一种方法就是采取滤波措施，滤掉无用的干扰频率，那样也会带来新的问题就是牺牲了仪器的响应时间。 |
[2005-11-29 11:05:28] |
| [问：pocky] |
为何我用4200测量连接在对电极的金、铂、镍纳米线时，每次测的结果结果都不同，有时甚至连续两次测量一次在nA量级，一次却在fA量级？而且经常电镜下明显显示纳米线已连接在电极上，室温下测量结果却在fA量级，数据几乎无用，请问可能会是什么问题？另外，由于我们测量的对象几乎都是对电极中的纳米线，两个探针加在对电极上磨损都很大，感觉很难避免，请问有什么好的办法么？ |
| [答：Billy] |
fA量级应该是仪器的本底，所以应该是接触问题。可以与我们公司联系，讨论具体应用。
免费电话：8008101334 |
[2005-11-29 11:07:02] |
| [问：greatddq] |
主持人，您好，我们是医疗仪器公司．主要是采集生物电信号的，这个信号比较小 而且干扰源很多！请问对于处理空间电磁干扰抑制有什么好的方法？（采样信号的频率一般小于200ｈｚ） |
| [答：Steven] |
远离干扰源，可以选一个专用的房间隔离干扰源，屏蔽被测器件以及对输入信号进行滤波。 |
[2005-11-29 11:11:08] |
| [问：color3sun] |
四探针测量中如果探针和材料之间不是欧姆接触，是否会影响对材料电阻的测量？ |
| [答：Billy] |
接触有多大阻值？具体情况可以具体分析。要考虑电流源的输出阻抗以及电压表的输入阻抗。 |
[2005-11-29 11:14:05] |
| [问：color3sun] |
利用吉时利的6514测量纳米材料电阻时，如何克服焦耳热对电阻的影响？6514的测电阻时所加电流能手动控制吗？ |
| [答：Billy] |
不同的电阻量程电流源是不一样的，可以参考指标。
若电流产生热量，可以考虑脉冲方法测量。可以与我们联系讨论具体方案。 |
[2005-11-29 11:17:26] |
| [问：chinavater] |
I-V特性分析系统价格? |
| [答：Billy] |
不同系统价格不一样。与我们联系
8008101334 |
[2005-11-29 11:18:09] |
| [问：yaofootball] |
请问有没有合适的仪器与方法测试碳纳米管的禁带宽度？谢谢！ |
| [答：Billy] |
能通过电特性测量得到宽度值吗？ |
[2005-11-29 11:19:05] |
| [问：zhd22] |
请问Keithley能否根据用户要求提供完善的测量方案。。谢谢！ |
| [答：Billy] |
可以。免费电话8008101334 |
[2005-11-29 11:19:24] |
| [问：tanglx] |
请问测量nA数量级的仪器测量速度最高有多少？ |
| [答：Billy] |
一般测量小电流测量仪器速度都不会很高。最多一秒钟数十到数百个点。若需要观测快速信号的变化。可以利用电流放大器加示波器的方法。 |
[2005-11-29 11:22:06] |
| [问：chinavater] |
有计算比表面电阻率公式吗?或能写出来吗? |
| [答：Steven] |
表面电阻率定义为材料的表面电阻。公式如下：
ρS=KS*R
ρS为表面电阻率
KS由测试盒几何尺寸决定的表面电阻率常数
R为实际测得的绝缘电阻 |
[2005-11-29 11:22:23] |
| [问：zhx771013] |
你们有响应时间和滤波之间的评价指标吗?谢谢. |
| [答：Billy] |
参考相关仪器手册 |
[2005-11-29 11:22:29] |
| [问：goodlawyer] |
4200接了一个探针台，他们有必要放入屏蔽室吗？ |
| [答：Billy] |
一般探针台带屏蔽就可以了 |
[2005-11-29 11:23:01] |
| [问：zhx771013] |
在一些设备的电缆该怎样防止摩擦电效应呢?,比如汽车等, |
| [答：Billy] |
摩擦电一般电流值较小nA以下，若测试电流远远高于这个量级，可以不用考虑。
若有影响，选择低噪声电缆。该电缆导体和绝缘层之间有石墨等润滑，可以减小该效应。
最好测试时不要移动电缆。 |
[2005-11-29 11:29:14] |
| [问：zmyang] |
我们昨天收到购买的贵公司6485皮安表，请问有没有输入保护的装置，因为我们测量电击穿前的预击穿电流，如果发生击穿，可能会有安培级的电流，如何保护皮安表不被烧坏？谢谢。 |
| [答：Billy] |
电路中串接一个保护电阻。对测试几乎没有影响，也能起到保护作用。
若有高压存在，还要注意在测试过程中不要变换测试量程，用固定量程。 |
[2005-11-29 11:31:15] |
| [问：robustcon] |
请问在测试时，电磁屏蔽应该如何消除？是不是用一个法拉第屏蔽盒就可以了？这个屏蔽盒的厚度以及金属类别是不是不受限制？我们做了一个这样的屏蔽盒，但是效果不理想，手机放进去以后仍然可以接通。 |
| [答：Billy] |
用一个普通金属盒试试。 |
[2005-11-29 11:32:11] |
| [问：lixiaoyun951] |
如何减小/消除各种误差源带来的相位噪声呢？ |
| [答：Billy] |
什么频率范围？ |
[2005-11-29 11:33:08] |
| [问：zhd22] |
在公式EAB＝QAB（T1－T2）中，要减少温度梯度的影响，您提供了将被测器件放入恒温的环境中预热，达到热平衡。但是，问题的是温度本身会对电阻的测量产生影响，请问如何解决这个问题，此外对恒温环境的温度有何要求。谢谢！ |
| [答：Billy] |
一般来说，测试连接以及被测件在同一个温度环境下就可以。不一定要预热。 |
[2005-11-29 11:34:53] |
| [问：lqg] |
用6517A+Labview+GPIB测量瞬态电流信号时，怎样修改其驱动程序以加快其采样速度？ |
| [答：Steven] |
可以设置6517A电流I测量的速度为最快，分辨率最小，去掉滤波等，还有就是不要用自动量程，最好选择一个固定量程；在MENU里还可以将A/D
control的SPEED设为fast等来提高采样速度，当然也牺牲了一定的精度，仪器的噪声抑制能力会比原来的状态下降。 |
[2005-11-29 11:35:52] |
| [问：goodlawyer] |
4200可以和锁相联合使用吗？ |
| [答：Billy] |
4200控制锁相放大器？提供相应的程控接口就可以。 |
[2005-11-29 11:39:05] |
| [问：happy-949] |
请问纳米应用中的精密电子测量技术研究现状及其前景如何？谢谢！ |
| [答：Billy] |
Keithley公司提供许多纳米应用的测量技术及测试设备。
可以与我们联系讨论具体问题。谢谢 |
[2005-11-29 11:40:47] |
| [问：phongde] |
采用该技术能否用来测量微安级别的电流和GHz级别的频率？谢谢！ |
| [答：Billy] |
本次研讨会主要讨论直流及很低频率的小信号测量。直流微安级别电流很容易测量。 |
[2005-11-29 11:42:27] |
| [问：nanogzr] |
我组已购买 keithyley 4200-scs semiconductor characterization
system， 请问如何通过该系统利用四点探针法测量导电高分子薄膜（或压片）的电导率？ |
| [答：Steven] |
首先您得有4个SMU，则可以采用范德堡法去实现测量。在KEITHLEY4200SCS内的KITE建立一个项目模型。通过2个SMU加电压，令两个SMU测电流，这样4点多次测量，很容易实现 |
[2005-11-29 11:42:36] |
| [问：xiaodao] |
纳米薄膜（厚度50nm左右）测量方法是什么？怎样测量平行50nm方向的电学特性，例如10nm厚处，20nm厚处，30nm厚处的电阻率分别是多少？谢谢！ |
| [答：Billy] |
四探针法？可以与我们联系讨论具体问题 |
[2005-11-29 11:43:20] |
| [问：gaozhi] |
请问：什么叫做元电阻？如何计算？ |
| [答：Billy] |
源电阻？ |
[2005-11-29 11:43:46] |
| [问：kuangshunlan] |
请问这个单位增益的放大器是电缆本身携带还是应该在仪器中单独设置这个放大器。用户永用不用关心它？电缆是不是可以在市场上买到？还是贵公司的专利产品？ |
| [答：Billy] |
仪器中。电缆是三同轴电缆。Keithley公司有相关资料 |
[2005-11-29 11:44:47] |
| [问：gaozhi] |
请问：如何测量在1nA左右的小电流？你们有什么先进的有效的解决方案？ |
| [答：Steven] |
可以到www.keithley.com.cn查看KEITHLEY的高精密数字多用表及6430或者皮安表6487，或者静电计6517A等均可以实现1nA左右的电流测量。 |
[2005-11-29 11:44:52] |
| [问：chinavater] |
4200价格多少? |
| [答：Billy] |
请与我们联系确认具体配置。
免费电话8008101334 |
[2005-11-29 11:45:20] |
| [问：happy-949] |
采用吉时利的测量方案测量精度如何？ |
| [答：Billy] |
Keithley公司可以提供直流小信号测量的最高精度 |
[2005-11-29 11:46:13] |
| [问：color3sun] |
对于6517A/6514/6485这三款仪器，测试中容易造成仪器损坏的连接有哪些？能根据你们公司的维修经验，说明一下吗？ |
| [答：Billy] |
测试中注意高压以及测试回路的连接。量程选择。 |
[2005-11-29 11:47:24] |
| [问：chinavater] |
有测试软件吗? |
| [答：Billy] |
有，不同的测试系统选择不同 |
[2005-11-29 11:48:48] |
| [问：zhangdingshui] |
当地线处理不好时，会形成回路电流吗？Please showy an example.
How do you deal with this problem?Thanks! |
| [答：Steven] |
会。这些在印制电路板或者信号线屏蔽时通常会选择单点接地。比方说有一个普通的带屏蔽层的电缆，通常我们会把电缆的一端屏蔽接地，而另一端屏蔽层则不接任何地，就是为了防止电流环路的形成，因为如果另一端接地，则电缆的等效模型则形成一个电容电阻串联回路，这时地噪声及空间电磁干扰便会耦合进来形成回路电流 |
[2005-11-29 11:49:42] |
| [问：ld5217] |
请问使用 Keithley 236和2400作为Photoresearch公司生产的PR650光度计的电源系统有什么区别？Keithley
236和2400报价分别为多少？ |
| [答：Billy] |
请与我们联系确认具体配置及价格 8008101334
236，2400属于源表系列。具有电压源，电流源，电压表，电流表的功能。适合IV测量 |
[2005-11-29 11:50:28] |
| [问：Zhao Zhan] |
非导电聚合物的测量方法，换句话说纳米级材料的阻抗测量技术，请介绍。 |
| [答：Billy] |
参考吉时利公司《低电平测量手册》 |
[2005-11-29 11:51:39] |
| [问：yaofootball] |
碳纳米管的I－v特性如何测量？
two probe测量与four probe测量是什么意思？有什么不同？
谢谢！ |
| [答：Steven] |
具体的纳米管是不同的。
two probe 和four probe是两点与四点探针法测量。四点探针法测量可以完全消除测试引线的误差。 |
[2005-11-29 11:51:47] |
| [主持人：ChinaECNet] |
恭喜您， 夏新电子的yuangq经过电脑抽奖您在本次座谈中获得一部MP3播放器。请网名为yuangq的用户与中电网联系(8610-82888222-7008
或 lilin@chinaecnet.com)。 |
[2005-11-29 11:53:04] |
| [问：color3sun] |
一个长宽高大概都是5微米的小颗粒，我们现在只有双探针系统，能否测量颗粒一个面上的电阻率？有没有测量放案？ |
| [答：Billy] |
什么阻值范围？可以尝试测量电阻后再计算电阻率。 |
[2005-11-29 11:53:20] |
| [问：dgxiphy] |
我还想知道，如何用keithley的设备测量微分电导，和二阶微分电导 |
| [答：Steven] |
可以到www.keithley.com.cn参考一下我们的6221+2182A组合 |
[2005-11-29 11:54:45] |
| [问：HongZhang] |
您在讲解微电流时，提到一种合成材料具有类似二极管的特性，是否可以请您告诉我那是什麽材料吗？ |
| [答：Steven] |
许多半导体材料都具有这种特性。请参考KEITHLEY低电平手册。 |
[2005-11-29 11:56:25] |
| [问：KENTON] |
请问keithley在南昌有没有服务机构？ |
| [答：Steven] |
请与北京联系。800-810-1334。 |
[2005-11-29 11:58:28] |
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