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热门关键字: 网络技术 星型拓扑 微型传感器 无线传感器网络 

关于本次座谈

座谈简介

本研讨会专为有工业测控系统开发需求的工程师而设计,帮助工程师在LabVIEW图形化环境下高效实现测控系统的开发、调试与产品化。讲座中将分别从控制系统和测试系统两个角度分别介绍定制和开发的步骤。涉及I/O选型、信号处理、控制算法设计及系统调试等多个步骤。
研讨会还将涉及领先的NI RIO技术,将商业现成可用的FPGA、模块化的I/O以及工业实时处理器封装在在一个紧凑坚固的工业级外科中,满足各种工业测控系统的特殊需求,如:微秒级的PID控制、控制算法设计、自定义协议开发、野外分布式同步采集、 GPS同步…

专家介绍

方慧敏 方慧敏
NI中国技术市场工程师
毕业于复旦大学,获硕士学位。目前职位为NI中国技术市场工程师,主要负责针对NI工业与嵌入式产品线进行策略制定与推广。方慧敏女士曾经担任应用工程师一职,主要负责NI产品的技术支持、项目论证等工作。
马夏怡 马夏怡
NI中国应用工程师
毕业于西安电子科技大学,获硕士学位。NI中国应用工程师,主要负责NI产品的技术支持、项目论证等工作。
叶智豪 叶智豪
NI中国应用工程师
毕业于浙江大学,获硕士学位。NI中国应用工程师,负责NI产品线的技术支持、项目论证、课程讲师等工作。
  关于NI  

NI 是自动化测试和测量系统领域的领导者,可以帮助工程师解决全球顶尖难题。NI 提供模块化硬件、软件、服务和系统,帮助您加快测试速度,改善设计质量,提高可靠性,同时充分利用测试数据。

NI 为各种市场的客户提供服务,包括半导体、电子、交通、航空航天与国防以及学术机构等。关键产品包括数据采集和控制、电子测试和仪器仪表、无线设计和测试以及工程教育。